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By Don H. Johnson

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Dabei stellt Es die Leiterplatte samt Lötstellen dar. RBI' E4 &TR 1 ES & Leiterplatte und Lötstellen 3. Die Belastungsfaktoren der einzelnen Elemente lassen sich anhand der Schaltung bestimmen. 1 für alle Elemente angenommen. 1 für alle anderen Elemente. Die Umgebungstemperatur ist 25 °C für die LED und 40 °C für die übrigen Elemente. 4. 45] bestimmt Für den Qualitätsfaktor werden Klassen äquivalent zu "P" für die Widerstände (MF), "tief' für den Transistor und "JAN" für die LEDs angenommen. 3-1 ·to-9 h-1 = 1·10-9 h-1, wenn der Transistor durchgeschaltet ist.

16 I Grundbegriffe, Aufgaben und Organisation der Qualitäts- und Zuverlässigkeitssicherung gen in der Entwicklungsphase soll so geregelt werden, daß jeder Entwicklungsingenieur seine eigene Baugruppe auch bezüglich Zuverlässigkeitsforderungen selbständig dimensioniert (vgl. Tab. 1). Zudem soll der Fertigungsbereich die Betrachtungseinheit bis zur Endprüfung selbständig produzieren können, wenn davon ausgegangen wird, daß die technische Dokumentation in Ordnung ist, die Fertigungsprozesse und -abläufe qualifiziert und die Bauteile und Stoffe den nötigen Prüfungen und Vorbehandlungen unterzogen wurden.

61) gegeben (vgl. auch Tab. ). 23) wird viel größer, wenn eine Reparatur ohne Betriebsunterbrechungen zugelassen wird (Tab. 8). 6 zeigt. Neben der hier untersuchten Redundanz k aus n gemäß GI. 22) ist man in bestimmten Anwendungen (z. B. ) daran interessiert, daß nicht mehr als n- k aufeinanderfolgende Elemente ausfallen. Eine solche Struktur ist in der Literatur als konsekutives System k aus n bekannt. Ein konsekutives System ist theoretisch zuverlässiger als die entsprechende Redundanz k aus n.

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